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現(xiàn)在市場上測試的一些材料表面無法加工甚至不可能加工至非常光滑，兩面也無法做到平行度非常好，這樣用接觸法測試這種材料的介電常數(shù)由于有空氣間隙的將會存在非常大的誤差，如果要求測試這種材料頻率從20Hz~40MHz幾乎不可能，測試樣品舉例如下面幾幅圖片。

用非接觸法測試上述這些材料的介電常數(shù)，不進對材料的表面的粗糙度還有兩個面的平行度的要求不是特別高，測試的準確度高。

理論上的可行性：

其中：

C_g：沒有被測物體，兩個電板之間的電容

C_m：有被測物體，兩個電板之間的電容

D_g：沒有被測物體，兩個電板形成電容的損耗

D_m：有被測物，兩個電板行程電容的損耗

t_g：電板之間的空氣間隙厚度

t_m：材料的厚度

測試夾具：

WK 1J1020 測試夾具配合穩(wěn)科 6500B系列精密阻抗分析儀或者在穩(wěn)科 6500P 高頻 LCR 表上使用，高頻率可達 40MHz。夾具設計用于夾持平面圓盤狀材料，材料的直徑不小于 38mm，厚度不大于 15mm。1020 夾具的兩端電之間的間距是可調整的，并通過千分尺測量，夾具圖片如下圖。

配合1J1020的測試軟件：

在WK 6500B（P）有軟件選配項/K是專門用于測試材料介電常數(shù)和磁導率的軟件，可以通過此軟件進行設定相關參數(shù)，在儀表上可以直接讀出材料的介電常數(shù)或者繪制材料的介電常數(shù)曲線，軟件的界面如下圖。